鉅亨網記者蔡宗憲 台北
智原科技(3035-TW)今日宣佈，以聯電90奈米製程所設計之SATA 3G解決方案通過SATA-IO相容性測試，此產品亦是業界首顆在此製程中通過相容認證的IP晶片，智原也因此成為全球第二個列入SATA-IO建構清單(SATA-IO's Building Block Listing)的IP供應商。
智原表示，符合相容性測試的SATA解決方案有助於確保交互使用性，可縮短客戶產品的上市時間。
自2008年開始，全球的內接式磁碟當中，有將近98%是採用SATA介面，已成為儲存應用領域中的主流標準，也讓相容性測試愈顯重要性，回溯至數年前SATA 3G首次揭櫫時，相容性測試的要求不但被視為過度保守、且會抑制SATA的發展。
智原科技策略長王國雍指出，智原持續保持在高速輸出入介面的技術研發上領先的地位，包括先前發表的PCIe Gen II、USB 3.0以及現在推出的SATA等，而這些輸出入技術的相容性測試與通過認證都是智原致力完成的目標，以確保客戶未來產品的交互使用性；目前符合相容標準的90奈米 PCIe-Gen II以及SATA 3G，已可對外供應，而USB 3.0預計將於年底推出。
SATA-IO規範對於主要的電氣參數表現要求相當嚴格，像發射端抖動(jitter)、發射端升/降時間平衡(tx rise/ fall time balance)、接收端抖動容許度 (rx jitter tolerance)、以及回波損失(return loss)等，其中某些參數彼此的牽制影響，使設計更複雜與困難。
智原科技研發處長曾玉光表示，通過SATA相容性測試一向是IP供應商的重要目標，智原能通過這項測試，不僅是對智原高速輸出入技術設計能力的肯定，也實現了我們向來對客戶提供性能優越解決方案的承諾。
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